在各種單片機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)中,存儲器的正常與否,直接關(guān)系到該系統(tǒng)的正常工作。為了提高系統(tǒng)的可靠性,對系統(tǒng)的可靠性進(jìn)行測試是十分必要的。通過測試可以有效地發(fā)現(xiàn)并解決因存儲器發(fā)生故障對系統(tǒng)帶來的破壞問題。專注于銷售各種存儲芯片供應(yīng)商英尚微電子介紹常用的單片機(jī)系統(tǒng)RAM測試方法，并在MARCH-G算法的基礎(chǔ)上提出了一種低功耗的改進(jìn)方法。它具有測試功耗低,故障覆蓋率較高的特點。
 
RAM測試方法
方法1:給出一種測試系統(tǒng)ram的方法,該方法是分兩步來檢查，先后向整個數(shù)據(jù)區(qū)分別送#00H和#FFH,再先后讀出比較,若不一樣,則說明出錯。
 
方法2:在方法1中,并不能完全檢查出RAM的錯誤,對進(jìn)行RAM檢測的一種標(biāo)準(zhǔn)算法MARCH-G進(jìn)行了分析介紹,MARCH-G算法主要的測試過程:第一步,初始化存貯器所有存貯單元為“0”;第二步,按地址遞增的順序?qū)γ恳粋€單元進(jìn)行先讀初始化“0”并寫“1”值的操作;第三步,按地址遞減的順序?qū)γ恳粋€單元進(jìn)行先讀“1”,后寫“0”,再讀“0”的操作。MARCH-G算法能夠提供非常出色的故障覆蓋率。但是所需要的測試時間是很大的。MARCH-G算法需要對全地址空間遍歷3次。設(shè)地址線為n根,則CPU需對RAM訪問6*2次。
 
基于格雷碼掃描的MARCH改進(jìn)方法
 
給出格雷碼的特點和低功耗應(yīng)用分析,格雷碼作為一種編碼其相鄰的兩個代碼只有一位不同，由格雷碼組成的單跳變測試序列可以顯著的降低被測電路的動態(tài)功耗。因此本文給出了一種基于格雷碼掃描的MARCH改進(jìn)方法，具體介紹如下:march-G算法在對存貯器訪問時地址信號是按一般二進(jìn)制編碼遞增或遞減的,例如地址線有4根,則尋址時按照按照0000,0001,0010,0011,0100,0101,0110,0111,1000,1001,1010,1011,1100,1101,1111的次序遞增或者反向遞減，因此是一種線性尋址方式;這種尋址方式?jīng)]有考慮到測試時地址序列對存貯器內(nèi)部的動態(tài)功耗影響。這里我們采用格雷碼來取代原先的二進(jìn)制編碼作為地址信號,例如地址線有4根,則尋址時按照0000,0001,0011,0010,0100,0101,0111,0110,1100,1101,1111,1110,1000,1001,1011,1010的次序正序變化或者反序變化,這樣對存貯器的尋址就屬于非線性尋址方式,基于格雷碼掃描的測試過程如下:

第一步,按格雷碼地址次序正序變化將存貯器所有存貯單元寫入“0”;
第二步,按格雷碼地址反序變化對每一個單元進(jìn)行讀“0”并寫“1”值的操作;
第三步,按格雷碼地址正序變化對每一個單元進(jìn)行讀“1”的操作。設(shè)地址線為n根,則CPU需對RAM訪問4*2n次。

和MARCH-G算法相比該方法能夠提供相同的故障覆蓋率，同時所需要的測試時間降低了三分之一,測試時RAM內(nèi)部動態(tài)功耗降低了80%左右,因而比MARCH-G算法有更大的優(yōu)越性。
 
本文介紹了單片機(jī)系統(tǒng)RAM測試的一般方法，并在原有MARCH-G算法基礎(chǔ)上提出了一種改進(jìn)的格雷碼掃描的RAM故障測試方法。它具有診斷耗時短,測試功耗低的特點,因而有著很高的應(yīng)用價值。
 
 
本文關(guān)鍵詞：ram

相關(guān)文章： 上海巨微的專用藍(lán)牙廣播芯片

深圳市英尚微電子有限公司是一家專業(yè)的靜態(tài)隨機(jī)記憶體產(chǎn)品及方案提供商，十年來專業(yè)致力代理分銷存儲芯片IC, SRAM、MRAM、pSRAM、 FLASH芯片、SDRAM（DDR1/DDR2/DDR3）等,為客人提供性價比更高的產(chǎn)品及方案。
英尚微電子中國區(qū)指定的授權(quán)代理：VTI、NETSOL、JSC濟(jì)州半導(dǎo)體(EMLSI)、Everspin 、IPSILOG、LYONTEK、ISSI、CYPRESS、ISOCOME、PARAGON、SINOCHIP、UNIIC； 著名半導(dǎo)體品牌的專業(yè)分銷商  如：RAMTROM、ETRON、FUJITSU、LYONTEK、WILLSEMI。